Characterization of Si-SiO[2] interface by the electrical conductivity at low temperatures
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国立国会図書館デジタルコレクション
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書誌情報
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- 資料種別
- 博士論文
- 著者・編者
- 八木厚夫 [著]
- 著者標目
- 八木, 厚夫 ヤギ, アツオ
- 並列タイトル等
- MOS型電界効果トランジスタの低温に於ける電気伝導率の測定によるシリコン-二酸化シリコン界面の特性評価 MOSガタ デンカイ コウカ トランジスタ ノ テイオン ニ オケル デンキ デンドウリツ ノ ソクテイ ニ ヨル シリコン - ニサンカ シリコン カイメン ノ トクセイ ヒョウカ
- 授与機関名
- 学習院大学
- 授与年月日
- 昭和56年3月7日
- 授与年月日（W3CDTF）
- 1981
- 報告番号
- 乙第34号
- 学位
- 理学博士