博士論文
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Extended X-ray absorption fine structure studies of amorphous and crystalline Si-Ge alloys with synchrotron radiation

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Extended X-ray absorption fine structure studies of amorphous and crystalline Si-Ge alloys with synchrotron radiation

国立国会図書館請求記号
UT51-89-N331
国立国会図書館書誌ID
000000222023
国立国会図書館永続的識別子
info:ndljp/pid/11600283
資料種別
博士論文
著者
梶山博司 [著]
出版者
-
出版年
-
資料形態
紙・デジタル
ページ数・大きさ等
-
授与大学名・学位
広島大学,理学博士
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書誌情報

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デジタル

資料種別
博士論文
著者・編者
梶山博司 [著]
著者標目
梶山, 博司 カジヤマ, ヒロシ
並列タイトル等
放射光を用いたEXAFS法によるSi-Ge合金の研究 ホウシャコウ オ モチイタ EXAFSホウ ニ ヨル Si-Ge ゴウキン ノ ケンキュウ
授与機関名
広島大学
授与年月日
昭和63年11月28日
授与年月日(W3CDTF)
1988
報告番号
乙第1773号
学位
理学博士