博士論文
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イオン打込みとアニーリングプロセスにより作成した高濃度ドープSi薄層及び細線の電子局在の研究

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イオン打込みとアニーリングプロセスにより作成した高濃度ドープSi薄層及び細線の電子局在の研究

国立国会図書館請求記号
UT51-89-T332
国立国会図書館書誌ID
000000226372
国立国会図書館永続的識別子
info:ndljp/pid/11568864
資料種別
博士論文
著者
伊藤和男 [著]
出版者
-
出版年
-
資料形態
紙・デジタル
ページ数・大きさ等
-
授与大学名・学位
東京大学,理学博士
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書誌情報

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デジタル

資料種別
博士論文
タイトルよみ
イオン ウチコミ ト アニーリング プロセス ニ ヨリ サクセイシタ コウノウド ドープ Si ハクソウ オヨビ サイセン ノ デンシ キョクザイ ノ ケンキュウ
著者・編者
伊藤和男 [著]
著者標目
伊藤, 和男 イトウ, カズオ
授与機関名
東京大学
授与年月日
平成1年2月27日
授与年月日(W3CDTF)
1989
報告番号
乙第9159号
学位
理学博士