Two-dimensional fringing effects of scaled-down MOS field effect transistors
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国立国会図書館デジタルコレクション
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目次
CONTENTS
p9
1 Introduction
p1
1.1 The background and motive of this study
p1
1.2 Problems to be solved and contents of this thesis
p13
2 The on-chip capacitance measurement technique for diffused and other internal lines in VLSI
p21
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書誌情報
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- 資料種別
- 博士論文
- 著者・編者
- 岩井洋 [著]
- 著者標目
- 岩井, 洋, 1949- イワイ, ヒロシ, 1949- ( 00919951 )典拠
- 並列タイトル等
- 縮小したMOS電界効果トランジスタの二次元周辺効果 シュクショウシタ MOS デンカイ コウカ トランジスタ ノ ニジゲン シュウヘン コウカ
- 授与機関名
- 東京大学
- 授与年月日
- 平成4年3月16日
- 授与年月日（W3CDTF）
- 1992
- 報告番号
- 乙第10641号
- 学位
- 博士 (工学)