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Lattice location of impurities in ZnSe and GaN as studies by ion beam analysis

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Lattice location of impurities in ZnSe and GaN as studies by ion beam analysis

国立国会図書館請求記号
UT51-2000-F426
国立国会図書館書誌ID
000000352667
国立国会図書館永続的識別子
info:ndljp/pid/3167475
資料種別
博士論文
著者
小林一 [著]
出版者
-
出版年
-
資料形態
紙・デジタル
ページ数・大きさ等
-
授与大学名・学位
京都大学,博士 (理学)
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目次

  • 論文目録

  • Contents

    p1

  • Abstract

    p1

  • Chapter1 Introduction

    p2

  • 1-1 ZnSe and GaN semiconductors

    p2

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書誌情報

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デジタル

資料種別
博士論文
著者・編者
小林一 [著]
著者標目
小林, 一 コバヤシ, ハジメ
並列タイトル等
イオンビームアナリシスによるZnSe、GaN中の不純物の格子位置解析 イオン ビー ムアナリシス ニ ヨル ZnSe GaNチュウ ノ フジュンブツ ノ コウシ イチ カイセキ
授与機関名
京都大学
授与年月日
平成12年3月23日
授与年月日(W3CDTF)
2000
報告番号
乙第10360号
学位
博士 (理学)