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半導体デバイスの品質認証のための共通仕様書に関するガイドライン

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半導体デバイスの品質認証のための共通仕様書に関するガイドライン

国立国会図書館請求記号
Y95-85C1470
国立国会図書館書誌ID
000001760002
資料種別
図書
著者
-
出版者
日本電子部品信頼性センター
出版年
1984.3
資料形態
紙
ページ数・大きさ等
35p ; 30cm
NDC
549.8
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書誌情報

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紙

資料種別
図書
タイトル
半導体デバイスの品質認証のための共通仕様書に関するガイドライン
タイトルよみ
ハンドウタイ デバイス ノ ヒンシツ ニンショウ ノ タメノ キョウツウ シヨウショ ニ カンスル ガイドライン
出版事項
東京 : 日本電子部品信頼性センター
出版年月日等
1984.3
出版年（W3CDTF）
1984
数量
35p
大きさ
30cm
出版地（国名コード）
JP
本文の言語コード
jpn