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半導体デバイスの静電気破壊現象とその評価方法に関するガイドライン 附属書

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半導体デバイスの静電気破壊現象とその評価方法に関するガイドライン. 附属書

国立国会図書館請求記号
ND371-E12
国立国会図書館書誌ID
000001967673
資料種別
図書
著者
日本電子部品信頼性センター
出版者
日本電子部品信頼性センター
出版年
1988.3
資料形態
ページ数・大きさ等
34p ; 26cm
NDC
549.8
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書誌情報

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資料種別
図書
タイトルよみ
ハンドウタイ デバイス ノ セイデンキ ハカイ ゲンショウ ト ソノ ヒョウカ ホウホウ ニ カンスル ガイドライン
巻次・部編番号
附属書
著者標目
日本電子部品信頼性センター ニホン デンシ ブヒン シンライセイ センター ( 00293467 )典拠
出版年月日等
1988.3
出版年(W3CDTF)
1988
数量
34p
大きさ
26cm