博士論文

放射光X線回折法による極薄膜SOI(Silicon on Insulator)ウエーハの構造評価に関する研究

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放射光X線回折法による極薄膜SOI(Silicon on Insulator)ウエーハの構造評価に関する研究

国立国会図書館請求記号
UT51-2003-E610
国立国会図書館書誌ID
000004137141
資料種別
博士論文
著者
福田一徳 [著]
出版者
[福田一徳]
出版年
2002
資料形態
ページ数・大きさ等
1冊
授与大学名・学位
大阪大学,博士 (工学)
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資料種別
博士論文
タイトルよみ
ホウシャコウ Xセン カイセツホウ ニ ヨル キョクハクマク SOI Silicon on Insulator ウエーハ ノ コウゾウ ヒョウカ ニ カンスル ケンキュウ
著者・編者
福田一徳 [著]
著者標目
福田, 一徳 フクダ, カズノリ
出版事項
出版年月日等
2002
出版年(W3CDTF)
2002
数量
1冊
授与機関名
大阪大学