Defect profiling in elemental and multilayer systems: Correlations of fitted defect concentrations with positron implantation profiles BNL-60588 DE94 015844 CONF-940519-81

Defect profiling in elemental and multilayer systems: Correlations of fitted defect concentrations with positron implantation profiles

BNL-60588 DE94 015844 CONF-940519-81

国立国会図書館請求記号: LS-DE94/015844
国立国会図書館書誌ID: 000005497496

資料種別: 規格・テクニカルリポート類

著者: Ghosh, V. Jほか

出版者: -

出版年: 1994

資料形態: マイクロ

ページ数・大きさ等: 15 p. (1 microfiche)

NDC: -

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書誌情報

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マイクロ

資料種別: 規格・テクニカルリポート類
タイトル: Defect profiling in elemental and multilayer systems: Correlations of fitted defect concentrations with positron implantation profiles
著者・編者: Ghosh, V. J
Nielsen, B
Lynn, K. G
Welch, D. O
出版年月日等: 1994
出版年（W3CDTF）: 1994
数量: 15 p. (1 microfiche)
資料種別（注記）: [microform]
リポート番号: テクニカルリポート番号 : BNL-60588
テクニカルリポート番号 : DE94 015844
テクニカルリポート番号 : CONF-940519-81
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: LS-DE94/015844
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000005497496
http://id.ndl.go.jp/bib/000005497496
整理区分コード: 291