Comparative validities of ASVAB and LAMP tests for logic gates learning microform / Raymond E. Christal (AL-TP ; 1991-0031)

Comparative validities of ASVAB and LAMP tests for logic gates learning microform / Raymond E. Christal

(AL-TP ; 1991-0031)

資料に関する注記

一般注記：: Distributed to depository libraries in microficheShipping list no.: 92-1584-MPhysical description for original version: 1 v

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資料種別: 図書
タイトル: Comparative validities of ASVAB and LAMP tests for logic gates learning microform / Raymond E. Christal
シリーズタイトル: AL-TP ; 1991-0031
著者標目: Christal, Raymond E
Armstrong Laboratory (U.S.)
出版年（W3CDTF）: 1991
数量: microfiche
大きさ: 11 × 15 cm
出版地（国名コード）: US
本文の言語コード: eng
資料種別（注記）: [microform]
件名標目: Armed Services Vocational Aptitude Battery
Cognition -- Testing
一般注記: Distributed to depository libraries in microfiche
Shipping list no.: 92-1584-M
Physical description for original version: 1 v
原資料等に関する注記: 原資料の出版事項: Brooks Air Force Base, Tex. : Armstrong Laboratory, Air Force Systems Command, [1991]
SUPTDOC番号: D 301.45/27-4: 1991-0031
GPO管理番号: 0421-E-03 (MF)
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: YCA-D 301.45/27-4:1991-0031
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000006576482
http://id.ndl.go.jp/bib/000006576482
OCLC番号: 27257820
https://www.worldcat.org/oclc/27257820
整理区分コード: 281