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Version 2.0 of the TXYZ thermal analysis program, TXYZ20 [microform] / John Albers (Semiconductor measurement technology) (NIST special publication ; 400-89)

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Version 2.0 of the TXYZ thermal analysis program, TXYZ20 [microform] / John Albers

(Semiconductor measurement technology) (NIST special publication ; 400-89)

国立国会図書館請求記号
YCA-C 13.10:400-89
国立国会図書館書誌ID
000006587429
資料種別
図書
著者
Albers, Johnほか
出版者
-
出版年
1992
資料形態
マイクロ
ページ数・大きさ等
microfiche ; 11 × 15 cm
NDC
-
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資料に関する注記

一般注記:

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書誌情報

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マイクロ

資料種別
図書
出版年(W3CDTF)
1992
数量
microfiche
大きさ
11 × 15 cm
出版地(国名コード)
US
本文の言語コード
eng
資料種別(注記)
[microform]