ヘルプ
ヘルプ
図書

Analog-digital simulation of transient-induced logic errors and upset susceptibility of an advanced control system [microform] / Victor A. Carreno, G. Choi and R.K. Iyer (NASA technical memorandum ; 4241)

図書を表すアイコン

Analog-digital simulation of transient-induced logic errors and upset susceptibility of an advanced control system [microform] / Victor A. Carreno, G. Choi and R.K. Iyer

(NASA technical memorandum ; 4241)

国立国会図書館請求記号
YCA-NAS 1.15:4241
国立国会図書館書誌ID
000006597656
資料種別
図書
著者
Carreno, Victor Aほか
出版者
-
出版年
1990
資料形態
マイクロ
ページ数・大きさ等
microfiche ; 11 × 15 cm
NDC
-
すべて見る

資料に関する注記

一般注記：

Distributed to depository libraries in microfichePhysical description for original version: 1 v

書店で探す

書店で探す

書店で探す

書誌情報

この資料の詳細や典拠（同じ主題の資料を指すキーワード、著者名）等を確認できます。

マイクロ

資料種別
図書
タイトル
Analog-digital simulation of transient-induced logic errors and upset susceptibility of an advanced control system [microform] / Victor A. Carreno, G. Choi and R.K. Iyer
シリーズタイトル
NASA technical memorandum ; 4241
著者標目
Carreno, Victor A
Choi, G
Iyer, R. K
United States. National Aeronautics and Space Administration. Scientific and Technical Information Division
出版年（W3CDTF）
1990
数量
microfiche
大きさ
11 × 15 cm
並列タイトル等
Analog digital simulation of transient induced logic errors and upset susceptibility of an advanced control system
出版地（国名コード）
US
本文の言語コード
eng