軟X線逆光電子分光法による表面状態分析

資料に関する注記

書店で探す

この資料の詳細や典拠（同じ主題の資料を指すキーワード、著者名）等を確認できます。

資料種別: 図書
タイトル: 軟X線逆光電子分光法による表面状態分析
タイトルよみ: ナン Xセンギャクコウデンシブンコウホウニヨルヒョウメンジョウタイブンセキ
著者・編者: 鎌田, 雅夫, 岡崎国立共同研究機構
著者標目: 鎌田, 雅夫カマダ, マサオ
出版年月日等: 1991-1992
出版年（W3CDTF）: 1991
数量: 冊
その他のタイトル: 研究種目一般研究(C)
件名標目: 軟X線ナンXセン
逆光電子分光ギヤクコウデンシブンコウ
スパツタリングスパツタリング
電子線照射デンシセンシヨウシヤ
分子性発光ブンシセイハツコウ
NDLC: Y151
一般注記: 文部省科学研究費補助金研究成果報告書
科研費課題番号: 02650032
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: Y151-H02650032
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000006979483
http://id.ndl.go.jp/bib/000006979483
整理区分コード: 214