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散乱X線の理論強度を用いるSnめっき中Pbの蛍光X線分析 : EDXによるRoHS指令元素の蛍光X線分析

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散乱X線の理論強度を用いるSnめっき中Pbの蛍光X線分析 : EDXによるRoHS指令元素の蛍光X線分析

国立国会図書館請求記号
Z16-472
国立国会図書館書誌ID
024032498
資料種別
記事
著者
小川 理絵ほか
出版者
京都 : 島津評論編集部 ; 1940-
出版年
2012
資料形態
掲載誌名
島津評論 / 島津評論編集部 [編] 69(1・2)=217:2012
掲載ページ
p.181-188
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
小川 理絵
越智 寛友
市丸 直人 他
並列タイトル等
X-ray Fluorescence Analysis of Lead in Tin Plating Using Theoretical Intensity of Scattered X-rays : Analysis of RoHS Regulated Elements by Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer (EDX)
タイトル(掲載誌)
島津評論 / 島津評論編集部 [編]
巻号年月日等(掲載誌)
69(1・2)=217:2012
掲載巻
69
掲載号
1・2
掲載通号
217