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書誌情報
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- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- 和田 真一越田 圭治永井 祥子 他
- シリーズタイトル
- 並列タイトル等
- Degradation Phenomenon of Electrical Contacts by using Micro-Sliding Mechanisms : Analysis of Time-Sequential Fluctuation Data (27)
- タイトル（掲載誌）
- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
- 巻号年月日等（掲載誌）
- 112(415):2013.1.25
- 掲載巻
- 112
- 掲載号
- 415