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ホール素子磁場検出によるNiZnフェライト/Znフェライト界面の特性分布評価 (第47回秋期講演大会 : 優秀賞受賞論文と受賞者の感想)

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ホール素子磁場検出によるNiZnフェライト/Znフェライト界面の特性分布評価

(第47回秋期講演大会 : 優秀賞受賞論文と受賞者の感想)

国立国会図書館請求記号
Z16-1232
国立国会図書館書誌ID
024268238
資料種別
記事
著者
中島 啓之ほか
出版者
[東京] : 日本電子材料技術協会
出版年
2011-11
資料形態
掲載誌名
日本電子材料技術協会会報 = Bulletin of Japan Electronic Materials Society / 日本電子材料技術協会 編 42:2011.11
掲載ページ
p.43-45
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
中島 啓之
飯島 洋祐
河野 健二 他
タイトル(掲載誌)
日本電子材料技術協会会報 = Bulletin of Japan Electronic Materials Society / 日本電子材料技術協会 編
巻号年月日等(掲載誌)
42:2011.11
掲載巻
42
掲載ページ
43-45
掲載年月日(W3CDTF)
2011-11