Sn-Ag-Cuはんだバンプ継手の破壊形態と耐衝撃性に及ぼす界面反応層厚さの影響

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Sn-Ag-Cuはんだバンプ継手の破壊形態と耐衝撃性に及ぼす界面反応層厚さの影響

国立国会図書館請求記号
Z74-H317
国立国会図書館書誌ID
024272752
資料種別
記事
著者
大藤 友也ほか
出版者
大阪 : 高温学会
出版年
2012-05
資料形態
掲載誌名
スマートプロセス学会誌 = Journal of smart processing 1(3):2012.5
掲載ページ
p.143-148
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書誌情報

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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
大藤 友也
西川 宏
竹本 正
並列タイトル等
Effect of Interfacial Reaction Layer Thickness on Fracture Morphology and Impact Resistance of Sn-Ag-Cu Solder Bump Joint
タイトル(掲載誌)
スマートプロセス学会誌 = Journal of smart processing
巻号年月日等(掲載誌)
1(3):2012.5
掲載巻
1
掲載号
3
掲載ページ
143-148