ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : ハンマリング加振機構の特性に関する基礎的検討(27) (有機エレクトロニクス)

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ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : ハンマリング加振機構の特性に関する基礎的検討(27)

(有機エレクトロニクス)

国立国会図書館請求記号
Z16-940
国立国会図書館書誌ID
024679045
資料種別
記事
著者
和田 真一ほか
出版者
東京 : 電子情報通信学会
出版年
2013-06-21
資料形態
掲載誌名
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 113(98):2013.6.21
掲載ページ
p.55-60
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
和田 真一
越田 圭治
益田 直樹 他
シリーズタイトル
並列タイトル等
Degradation Phenomenon of Electrical Contacts by using a Hammering Oscillating Mechanism or a Micro-Sliding Mechanism : A fundamental study on the performance of the hammering oscillating mechanism(27)
タイトル(掲載誌)
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等(掲載誌)
113(98):2013.6.21
掲載巻
113
掲載号
98