半導体分野のESD(静電気放電)に関わる諸問題 (ESD (Electro Static Discharge)静電気放電)

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半導体分野のESD(静電気放電)に関わる諸問題(ESD (Electro Static Discharge)静電気放電)

国立国会図書館請求記号
Z14-2023
国立国会図書館書誌ID
024931674
資料種別
記事
著者
藤江 明雄
出版者
東京 : 日本信頼性学会
出版年
2013-09
資料形態
掲載誌名
信頼性 = The journal of Reliability Engineering Association of Japan : 日本信頼性学会誌 35(6)=210:2013.9
掲載ページ
p.342-349
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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
藤江 明雄
著者標目
並列タイトル等
Various Problems of ESD of Semiconductor Devices
タイトル(掲載誌)
信頼性 = The journal of Reliability Engineering Association of Japan : 日本信頼性学会誌
巻号年月日等(掲載誌)
35(6)=210:2013.9
掲載巻
35
掲載号
6