EBSD法とチップ増...

EBSD法とチップ増強型偏光近接場ラマン分光法によるハイブリット評価を用いた歪マッピング技術の開発

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EBSD法とチップ増強型偏光近接場ラマン分光法によるハイブリット評価を用いた歪マッピング技術の開発

国立国会図書館請求記号
Z14-B424
国立国会図書館書誌ID
025627875
資料種別
記事
著者
來海 博央ほか
出版者
名古屋 : 名城大学総合研究所
出版年
2012
資料形態
掲載誌名
名城大学総合研究所紀要 = Bulletin of Research Institute of Meijo University / 名城大学総合研究所 編 (17):2012
掲載ページ
p.111-114
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
來海 博央
鈴木 雄也
谷津 祐哉 他
並列タイトル等
Development of Strain Mapping Technique by Hybrid Evaluation Combining Tip-enhanced Polarization Near-field Raman Micro-Spectroscopy with EBSD method
タイトル(掲載誌)
名城大学総合研究所紀要 = Bulletin of Research Institute of Meijo University / 名城大学総合研究所 編
巻号年月日等(掲載誌)
(17):2012
掲載号
17
掲載ページ
111-114
掲載年月日(W3CDTF)
2012