周辺視目視検査を模擬...

周辺視目視検査を模擬したインライン外観検査の一手法 : LCI法と簡易3D計測による「発見」と「精査」の分離 (優れた画像処理に触れる : ViEW2014より)

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周辺視目視検査を模擬したインライン外観検査の一手法 : LCI法と簡易3D計測による「発見」と「精査」の分離

(優れた画像処理に触れる : ViEW2014より)

国立国会図書館請求記号
Z74-C199
国立国会図書館書誌ID
026196275
資料種別
記事
著者
広瀬 修
出版者
東京 : 産業開発機構
出版年
2015-03
資料形態
掲載誌名
映像情報industrial 47(3)=853:2015.3
掲載ページ
p.70-73
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資料種別
記事
著者・編者
広瀬 修
著者標目
タイトル(掲載誌)
映像情報industrial
巻号年月日等(掲載誌)
47(3)=853:2015.3
掲載巻
47
掲載号
3
掲載通号
853