薄膜化したシリカ/エ...

薄膜化したシリカ/エポキシ樹脂ナノコンポジット材料のナノスケール絶縁耐性評価 (誘電・絶縁材料研究会・空間電荷・コンポジット)

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薄膜化したシリカ/エポキシ樹脂ナノコンポジット材料のナノスケール絶縁耐性評価

(誘電・絶縁材料研究会・空間電荷・コンポジット)

国立国会図書館請求記号
Z43-227
国立国会図書館書誌ID
027842677
資料種別
記事
著者
大西 拓弥ほか
出版者
東京 : 電気学会
出版年
2016-12-19
資料形態
掲載誌名
電気学会研究会資料. DEI 2016(92・94-106):2016.12.19
掲載ページ
p.17-22
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
大西 拓弥
小花 絃暉
橋本 修一郎
富田 基裕
渡邉 孝信
武良 光太郎
津田 敏宏
吉満 哲夫
並列タイトル等
Nano-scale Dielectric Breakdown Strength Evaluation of Silica/Epoxy-Resin Nano-Combosite Thin Film
タイトル(掲載誌)
電気学会研究会資料. DEI
巻号年月日等(掲載誌)
2016(92・94-106):2016.12.19
掲載巻
2016
掲載号
92・94-106