2016 IEEE international integrated reliability workshop : (IIRW 2016) : South Lake Tahoe, California, USA : 9-13 October 2016 : Oct 2016, South Lake Tahoe, CA.

国立国会図書館請求記号: M17-18-1892
国立国会図書館書誌ID: 028503693

資料種別: 図書

著者: International Integrated Reliability Workshop (2016 : South Lake Tahoe, Calif.)

出版者: IEEE

出版年: [2016]

資料形態: 紙

ページ数・大きさ等: xlvi, 106 pages ; 28 cm

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資料に関する注記

一般注記：: Abstracts, presentations and papers.IEEE catalog number CFP16IRW-POD.

形態の詳細：: illustrations

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書誌情報

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紙

資料種別: 図書
ISBN: 9781509041947 (Print-On-Demand)
ISSN: 1930-8841
タイトル: 2016 IEEE international integrated reliability workshop : (IIRW 2016) : South Lake Tahoe, California, USA : 9-13 October 2016 : Oct 2016, South Lake Tahoe, CA.
著者標目: International Integrated Reliability Workshop (2016 : South Lake Tahoe, Calif.)
出版事項: Piscataway, NJ : IEEE (出版)
出版年（W3CDTF）: 2016
数量: xlvi, 106 pages
形態の詳細: illustrations
大きさ: 28 cm
出版地（国名コード）: US
本文の言語コード: eng
ジャンル・形式用語: Conference papers and proceedings.
表現種別: text
機器種別: unmediated
キャリア種別: volume
件名標目: Integrated circuits--Reliability--Congresses.
Integrated circuits--Wafer-scale integration--Reliability--Congresses.
Semiconductors--Reliability--Congresses.
Integrated circuits--Reliability.
Integrated circuits--Wafer-scale integration--Reliability.
Semiconductors--Reliability.
NDLC: M17
対象利用者: 一般
一般注記: Abstracts, presentations and papers.
IEEE catalog number CFP16IRW-POD.
書誌注記: Includes bibliographical references and author index.
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: M17-18-1892
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 028503693
http://id.ndl.go.jp/bib/028503693
目録規則: RDA
整理区分コード: 215