表面電位顕微鏡を用いたナノ材料ゼーベック係数測定手法の開発 (電子デバイス)

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表面電位顕微鏡を用いたナノ材料ゼーベック係数測定手法の開発

(電子デバイス)

国立国会図書館請求記号
Z16-940
国立国会図書館書誌ID
028876789
資料種別
記事
著者
鈴木 悠平ほか
出版者
東京 : 電子情報通信学会
出版年
2018-02-28
資料形態
掲載誌名
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 117(453):2018.2.28
掲載ページ
p.27-30
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
鈴木 悠平
岡 晃人
川合 健斗
立岡 浩一
猪川 洋
下村 勝
村上 健司
ファイズ サレ
池田 浩也
シリーズタイトル
並列タイトル等
Construction of Seebeck coefficient evaluation technique by Kelvin-probe force microscopy
タイトル(掲載誌)
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等(掲載誌)
117(453):2018.2.28
掲載巻
117
掲載号
453