書誌情報
この資料の詳細や典拠（同じ主題の資料を指すキーワード、著者名）等を確認できます。
- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- 手嶋 俊彰矢野 佑典五百旗頭 健吾豊田 啓孝
- シリーズタイトル
- 並列タイトル等
- Study on Signal-to-Noise Ratio Simulation of Side-Channel Traces Leaked from AES Circuit using EDA tool
- タイトル（掲載誌）
- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
- 巻号年月日等（掲載誌）
- 118(272):2018.10.29
- 掲載巻
- 118
- 掲載号
- 272