MEMSダイナミック光再構成型ゲートアレイの不良耐性 (VLSI設計技術)

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MEMSダイナミック光再構成型ゲートアレイの不良耐性

(VLSI設計技術)

国立国会図書館請求記号
Z16-940
国立国会図書館書誌ID
10391144
資料種別
記事
著者
瀬戸 大作ほか
出版者
東京 : 電子情報通信学会
出版年
2009-09
資料形態
掲載誌名
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 109(201) 2009.9.24・25
掲載ページ
p.71~76
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
瀬戸 大作
渡邊 実
シリーズタイトル
並列タイトル等
Defect tolerance of a MEMS dynamic optically reconfigurable gate array
タイトル(掲載誌)
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等(掲載誌)
109(201) 2009.9.24・25
掲載巻
109
掲載号
201