全国の図書館の所蔵
国立国会図書館以外の全国の図書館の所蔵状況を表示します。
所蔵のある図書館から取寄せることが可能かなど、資料の利用方法は、ご自身が利用されるお近くの図書館へご相談ください
書誌情報
この資料の詳細や典拠（同じ主題の資料を指すキーワード、著者名）等を確認できます。
- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- 奥村 憲三多田 哲生小山 健
- 並列タイトル等
- A methodology for improving delivery time in a semiconductor wafer test process and its evaluation
- タイトル（掲載誌）
- 電子情報通信学会論文誌. C, エレクトロニクス = The IEICE transactions on electronics. C / 電子情報通信学会 編
- 巻号年月日等（掲載誌）
- 93(7) (通号 511) 2010.7
- 掲載巻
- 93
- 掲載号
- 7
- 掲載通号
- 511