年間特集「水」--ア...

年間特集「水」--アナリティカルレポート 気相分解/誘導結合プラズマ質量分析法を用いたシリコンウェハー表面金属分析による超純水水質評価

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年間特集「水」--アナリティカルレポート 気相分解/誘導結合プラズマ質量分析法を用いたシリコンウェハー表面金属分析による超純水水質評価

国立国会図書館請求記号
Z17-9
国立国会図書館書誌ID
10773113
資料種別
記事
著者
加藤 俊正ほか
出版者
東京 : 日本分析化学会
出版年
2010-07
資料形態
掲載誌名
分析化学 / 日本分析化学会 編 59(7) (通号 678) 2010.7
掲載ページ
p.559~563
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書誌情報

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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
加藤 俊正
星 重行
野口 俊彦 他
並列タイトル等
Evaluation of the cleanliness of ultrapure water by the analysis for metal concentration deposited on Si wafer surface using Vapor Phase Decomposition/Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry
タイトル(掲載誌)
分析化学 / 日本分析化学会 編
巻号年月日等(掲載誌)
59(7) (通号 678) 2010.7
掲載巻
59
掲載号
7
掲載通号
678