中性子回折の基礎と応...

中性子回折の基礎と応用(応用17)X線および中性子反射率測定によるシリコンを添加したダイヤモンドライクカーボン薄膜の構造解析

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中性子回折の基礎と応用(応用17)X線および中性子反射率測定によるシリコンを添加したダイヤモンドライクカーボン薄膜の構造解析

国立国会図書館請求記号
Z15-20
国立国会図書館書誌ID
10778401
資料種別
記事
著者
原田 雅史
出版者
東京 : 日本アイソトープ協会
出版年
2010-07
資料形態
掲載誌名
Radioisotopes / 日本アイソトープ協会radioisotopes編集委員会 編 59(7) 2010.7
掲載ページ
p.451~457
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
原田 雅史
著者標目
並列タイトル等
Fundamentals and applications of neutron diffraction (applications 17) Structure analysis of silicon-doped diamond-like carbon films by X-ray and neutron reflectivity measurements
タイトル(掲載誌)
Radioisotopes / 日本アイソトープ協会radioisotopes編集委員会 編
巻号年月日等(掲載誌)
59(7) 2010.7
掲載巻
59
掲載号
7
掲載ページ
451~457