RT法を用いたスイッ...

RT法を用いたスイッチ製品の不良分類の研究(その2) (第17回品質工学研究発表大会 技術者パワーを発揮させる品質工学)

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RT法を用いたスイッチ製品の不良分類の研究(その2)

(第17回品質工学研究発表大会 技術者パワーを発揮させる品質工学)

国立国会図書館請求記号
Z74-G71
国立国会図書館書誌ID
10782560
資料種別
記事
著者
菊地 富男
出版者
東京 : 品質工学フォーラム
出版年
2009
資料形態
掲載誌名
品質工学研究発表大会論文集 = QEF / 品質工学研究発表大会実行委員会 編 17 2009
掲載ページ
p.298~301
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
菊地 富男
著者標目
並列タイトル等
A research of SW failure classification with RT method (part 2)
タイトル(掲載誌)
品質工学研究発表大会論文集 = QEF / 品質工学研究発表大会実行委員会 編
巻号年月日等(掲載誌)
17 2009
掲載巻
17
掲載ページ
298~301