ハンマリング加振機構...

ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象--接触抵抗について(その13) (環境電磁工学)

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ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象--接触抵抗について(その13)

(環境電磁工学)

国立国会図書館請求記号
Z16-940
国立国会図書館書誌ID
10786221
資料種別
記事
著者
和田 真一ほか
出版者
東京 : 電子情報通信学会
出版年
2010-07-16
資料形態
掲載誌名
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 110(132) 2010.7.16
掲載ページ
p.1~6
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
和田 真一
園田 健人
越田 圭治 他
シリーズタイトル
並列タイトル等
Degradation phenomenon of electrical contacts by hammering oscillating mechanism: contact resistance (13)
タイトル(掲載誌)
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等(掲載誌)
110(132) 2010.7.16
掲載巻
110
掲載号
132