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雑誌電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報
巻号110(122)-110(131):2010.7.12-2010.7.16
記事光学的手法によるIT...

光学的手法によるITO/PI/P3HT/Au構造内部のキャリア挙動の評価 (電子ディスプレイ)

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光学的手法によるITO/PI/P3HT/Au構造内部のキャリア挙動の評価

(電子ディスプレイ)

国立国会図書館請求記号
Z16-940
国立国会図書館書誌ID
10786457
資料種別
記事
著者
宮沢 亮ほか
出版者
東京 : 電子情報通信学会
出版年
2010-07-12
資料形態
紙
掲載誌名
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 110(123) 2010.7.12
掲載ページ
p.27～30
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書誌情報

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紙

資料種別
記事
タイトル
光学的手法によるITO/PI/P3HT/Au構造内部のキャリア挙動の評価
著者・編者
宮沢 亮
田口 大
間中 孝彰 他
シリーズタイトル
電子ディスプレイ
著者標目
宮沢 亮
田口 大
間中 孝彰
並列タイトル等
Probing of carrier behaviors in ITO/PI/P3HT/Au using optical method
タイトル（掲載誌）
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等（掲載誌）
110(123) 2010.7.12
掲載巻
110
掲載号
123