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雑誌
電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報
巻号
110(153)-110(160):2010.7.29-2010.7.30
記事
TL(Thru-Li...
TL(Thru-Line)校正によるパッド部のディエンベディング手法 (光エレクトロニクス)
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TL(Thru-Line)校正によるパッド部のディエンベディング手法
(光エレクトロニクス)
国立国会図書館請求記号
Z16-940
国立国会図書館書誌ID
10786477
資料種別
記事
著者
平野 拓一ほか
出版者
東京 : 電子情報通信学会
出版年
2010-07
資料形態
紙
掲載誌名
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 110(156) 2010.7.29・30
掲載ページ
p.81~86
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書誌情報
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書誌情報を出力
紙
資料種別
記事
タイトル
TL(Thru-Line)校正によるパッド部のディエンベディング手法
著者・編者
平野 拓一
岡田 健一
広川 二郎 他
シリーズタイトル
光エレクトロニクス
著者標目
平野 拓一
岡田 健一
広川 二郎
並列タイトル等
De-embedding of pads using Thru-Line (TL) calibration
タイトル(掲載誌)
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等(掲載誌)
110(156) 2010.7.29・30
掲載巻
110
掲載号
156
掲載ページ
81~86
掲載年月日(W3CDTF)
2010-07
ISSN(掲載誌)
0913-5685
ISSN-L(掲載誌)
0913-5685
出版事項(掲載誌)
東京 : 電子情報通信学会
出版地(国名コード)
JP
本文の言語コード
jpn
件名標目
TRL校正
オープンショート
ディエンベディング
抽出
TL校正
パッド
伝送線路
伝搬定数
シリコンCMOS基板
ミリ波
TRL Calibration
Open-Short
De-embedding
Extraction
Thru-Line Calibration
Pad
Transmission Line
Propagation Constant
Si CMOS Substrate
Millimeter Wave
NDLC
ZN33
対象利用者
一般
レポート番号(雑誌記事)
EMT-10-77
所蔵機関
国立国会図書館
請求記号
Z16-940
連携機関・データベース
国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID(NDLBibID)
10786477
http://id.ndl.go.jp/bib/10786477
整理区分コード
632
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