測定時の劣化の影響を除去した高速NBTI回復特性センサーの検討 (集積回路)

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測定時の劣化の影響を除去した高速NBTI回復特性センサーの検討

(集積回路)

国立国会図書館請求記号
Z16-940
国立国会図書館書誌ID
10936937
資料種別
記事
著者
松本 高士ほか
出版者
東京 : 電子情報通信学会
出版年
2010-12
資料形態
掲載誌名
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 110(344) 2010.12.16・17
掲載ページ
p.55~58
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
松本 高士
牧野 紘明
小林 和淑 他
シリーズタイトル
並列タイトル等
A 65nm CMOS high-speed and high-fidelity NBTI recovery sensor
タイトル(掲載誌)
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等(掲載誌)
110(344) 2010.12.16・17
掲載巻
110
掲載号
344