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分析電子顕微鏡におけ...

分析電子顕微鏡における試料汚染の改善

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分析電子顕微鏡における試料汚染の改善

国立国会図書館請求記号
Z16-474
国立国会図書館書誌ID
2049300
資料種別
記事
著者
富田 健 他
出版者
東京 : 日本真空協会
出版年
1979-04
資料形態
掲載誌名
真空 = Journal of the Vacuum Society of Japan 22(4) 1979.04
掲載ページ
p.p158~164
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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
富田 健 他
著者標目
タイトル(掲載誌)
真空 = Journal of the Vacuum Society of Japan
巻号年月日等(掲載誌)
22(4) 1979.04
掲載巻
22
掲載号
4
掲載ページ
p158~164
掲載年月日(W3CDTF)
1979-04