内部酸化Ag-(Mg...

内部酸化Ag-(MgNi)OxシースBi系超伝導テープ線材の臨界電流密度におよぼす応力・ひずみと磁界の影響

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内部酸化Ag-(MgNi)OxシースBi系超伝導テープ線材の臨界電流密度におよぼす応力・ひずみと磁界の影響

国立国会図書館請求記号
Z15-388
国立国会図書館書誌ID
5781832
資料種別
記事
著者
打田 龍彦ほか
出版者
東京 : 低温工学・超電導学会
出版年
2001
資料形態
掲載誌名
低温工学 = Journal of Cryogenics and Superconductivity Society of Japan 36(5) 2001
掲載ページ
p.257~263
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
打田 龍彦
上原 亮平
佐藤 充典 他
タイトル(掲載誌)
低温工学 = Journal of Cryogenics and Superconductivity Society of Japan
巻号年月日等(掲載誌)
36(5) 2001
掲載巻
36
掲載号
5
掲載ページ
257~263
掲載年月日(W3CDTF)
2001