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Fourier analysis of HRTEM image deterioration caused by mechanical vibration

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Fourier analysis of HRTEM image deterioration caused by mechanical vibration

国立国会図書館請求記号
Z53-T76
国立国会図書館書誌ID
5997247
資料種別
記事
著者
Tadahiro Kawasakiほか
出版者
Oxford : Published for the Japanese Society of Electron Microscopy by Oxford University Press
出版年
2001
資料形態
掲載誌名
Journal of electron microscopy 50(5) 2001
掲載ページ
p.413~416
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
Tadahiro Kawasaki
Yoshihide Kimura
Yoshizo Takai 他
タイトル(掲載誌)
Journal of electron microscopy
巻号年月日等(掲載誌)
50(5) 2001
掲載巻
50
掲載号
5
掲載ページ
413~416
掲載年月日(W3CDTF)
2001