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雑誌電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報
巻号101(563)-101(573) 20020100-20020100
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Analytical model of the trap-density-dependent programming characteristics of MONOS memories and its application to a MONS memory

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Analytical model of the trap-density-dependent programming characteristics of MONOS memories and its application to a MONS memory

国立国会図書館請求記号
Z16-940
国立国会図書館書誌ID
6086389
資料種別
記事
著者
野本 和正ほか
出版者
東京 : 電子情報通信学会
出版年
2002-01-22
資料形態
紙
掲載誌名
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 101(573) 2002.1.22
掲載ページ
p.49～54
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紙

資料種別
記事
タイトル
Analytical model of the trap-density-dependent programming characteristics of MONOS memories and its application to a MONS memory
著者・編者
野本 和正
藤原 一郎
青笹 浩 他
著者標目
野本 和正
藤原 一郎
青笹 浩
並列タイトル等
MONOSメモリのトラップ密度に依存したプログラム特性の解析モデルとMONSメモリへの応用
タイトル（掲載誌）
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等（掲載誌）
101(573) 2002.1.22
掲載巻
101
掲載号
573
掲載ページ
49～54