Effect of Slurry Surfactant on Nanotopography Impact in Chemical Mechanical Polishing

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Effect of Slurry Surfactant on Nanotopography Impact in Chemical Mechanical Polishing

国立国会図書館請求記号
Z53-A375
国立国会図書館書誌ID
6684867
資料種別
記事
著者
Takeo Katohほか
出版者
Tokyo : Published by the Japan Society of Applied Physics through the Institute of Pure and Applied Physics
出版年
2003-09
資料形態
デジタル
掲載誌名
Japanese journal of applied physics. Part. 1, Regular papers, brief communications & review papers : JJAP 42(9A) (通号 582) 2003.9
掲載ページ
p.5430~5432
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資料詳細

要約等:

The effect of surfactant in a ceria slurry on the impact of nanotopography on post-CMP oxide thickness deviation (OTD) was investigated in a blanket w...

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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
Takeo Katoh
Sung-Jun Kim
Ungyu Paik 他
タイトル(掲載誌)
Japanese journal of applied physics. Part. 1, Regular papers, brief communications & review papers : JJAP
巻号年月日等(掲載誌)
42(9A) (通号 582) 2003.9
掲載巻
42
掲載号
9A
掲載通号
582
掲載ページ
5430~5432