SoCの電源雑音向け微細埋め込み型連続時間雑音検出手法 (シリコン材料・デバイス)

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SoCの電源雑音向け微細埋め込み型連続時間雑音検出手法

(シリコン材料・デバイス)

国立国会図書館請求記号
Z16-940
国立国会図書館書誌ID
8895923
資料種別
記事
著者
深澤 光弥ほか
出版者
東京 : 電子情報通信学会
出版年
2007-08
資料形態
掲載誌名
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 107(194) 2007.8.23・24
掲載ページ
p.85~90
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
深澤 光弥
松野 哲郎
植村 俊文 他
シリーズタイトル
並列タイトル等
Fine-grained in-circuit continuous-time probing technique of dynamic supply variation in SoCs
タイトル(掲載誌)
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等(掲載誌)
107(194) 2007.8.23・24
掲載巻
107
掲載号
194