{
    "@context": "https://id.ndl.go.jp/auth/context.json",
    "uri": "http://id.ndl.go.jp/auth/ndlsh/01179782",
    "type": {
        "uri": "http://www.w3.org/2004/02/skos/core#Concept"
    },
    "modified": "2017-06-08T15:46:45",
    "created": "2009-11-25",
    "prefLabel": {
        "literalForm": "ソフトウェアテスト",
        "transcription": "ソフトウェア テスト",
        "transcription-l": [
            {
                "@value": "ソフトウェア テスト",
                "@language": "ja-Kana"
            },
            {
                "@value": "Sofutoea tesuto",
                "@language": "ja-Latn"
            }
        ]
    },
    "label": "ソフトウェアテスト",
    "altLabel": [
        {
            "literalForm": "Computer software--Testing",
            "description": "LCSH (200911)"
        }
    ],
    "source": [
        "基本から学ぶソフトウェアテスト / Cem Kaner, Jack Falk, Hung Quoc Nguyen 著 ; テスト技術者交流会 訳",
        "クォリティマネジメント用語辞典"
    ],
    "inScheme": {
        "uri": "http://id.ndl.go.jp/auth#topicalTerms"
    },
    "sameAs": {
        "uri": "http://id.ndl.go.jp/auth/ndlsh/ソフトウェアテスト"
    },
    "relatedMatch": [
        {
            "uri": "http://id.ndl.go.jp/class/ndlc/M154"
        },
        {
            "uri": "http://id.ndl.go.jp/class/ndc10/007.63"
        },
        {
            "uri": "http://id.ndl.go.jp/class/ndc9/007.61"
        }
    ],
    "broader": [
        {
            "uri": "http://id.ndl.go.jp/auth/ndlsh/00679589",
            "label": "システム開発"
        }
    ]
}