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書誌情報
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- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- 与儀 千尋石井 秀司中西 康次 他
- 並列タイトル等
- Partial Fluorescence Yield XAFS Measurements in Lower Soft X-Ray Region by Using Large-Caliber Silicon Drift Detector
- タイトル（掲載誌）
- X線分析の進歩 / 日本分析化学会X線分析研究懇談会 編
- 巻号年月日等（掲載誌）
- (43):2012.3
- 掲載通号
- 43
- 掲載ページ
- 147-152
- 掲載年月日（W3CDTF）
- 2012-03