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雑誌電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報
巻号113(187)-113(190):2013.8.29-2013.8.30
記事半導体レーザの周波数...

半導体レーザの周波数雑音特性を応用した光距離計測の検討 (電子部品・材料)

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半導体レーザの周波数雑音特性を応用した光距離計測の検討

(電子部品・材料)

国立国会図書館請求記号
Z16-940
国立国会図書館書誌ID
024830566
資料種別
記事
著者
清水 直弥ほか
出版者
東京 : 電子情報通信学会
出版年
2013-08
資料形態
紙
掲載誌名
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 113(188):2013.8.29・30
掲載ページ
p.11-14
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書誌情報

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紙

資料種別
記事
タイトル
半導体レーザの周波数雑音特性を応用した光距離計測の検討
著者・編者
清水 直弥
前原 進也
土井 康平 他
シリーズタイトル
電子部品・材料
著者標目
清水 直弥
前原 進也
土井 康平
並列タイトル等
Optical Distance Measurement Using Frequency Noises of a Semiconductor Laser
タイトル（掲載誌）
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等（掲載誌）
113(188):2013.8.29・30
掲載巻
113
掲載号
188