書誌情報
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- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- 水谷 朋子山本 芳樹槇山 秀樹 他
- シリーズタイトル
- 並列タイトル等
- Reduced Cell Current Variability in Fully Depleted Silicon-on-Thin-BOX (SOTB) SRAM Cells at Supply Voltage of 0.4V
- タイトル（掲載誌）
- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
- 巻号年月日等（掲載誌）
- 113(173):2013.8.1・2
- 掲載巻
- 113
- 掲載号
- 173