雑誌 電子資料情報処理学会研究報告
少品種高信頼セルを用...

少品種高信頼セルを用いた高信頼回路設計手法と信頼性評価手法の提案 (組込みシステム(EMB) Vol.2010-EMB-16)

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少品種高信頼セルを用いた高信頼回路設計手法と信頼性評価手法の提案

(組込みシステム(EMB) Vol.2010-EMB-16)

Call No. (NDL)
YH267-101
Bibliographic ID of National Diet Library
025062020
Material type
記事
Author
大賀 健司ほか
Publisher
東京 : 情報処理学会
Publication date
2010-04
Material Format
Recording Media
Journal name
情報処理学会研究報告 2009年度(6) 2010.4
Publication Page
p.1-8
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Bibliographic Record

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Recording Media

Material Type
記事
Author/Editor
大賀 健司
姚 駿
中田 尚 他
Alternative Title
Designing a Dependability Evaluation Method for Logic Circuits Using Highly Reliable Cells
Periodical title
情報処理学会研究報告
No. or year of volume/issue
2009年度(6) 2010.4
Volume
2009年度
Issue
6