サファイアの反応性イオンエッチングにおけるマスク材が表面粗さに与える影響

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サファイアの反応性イオンエッチングにおけるマスク材が表面粗さに与える影響

国立国会図書館請求記号
YH247-299
国立国会図書館書誌ID
025916718
資料種別
記事
著者
鈴木 順也ほか
出版者
[東京] : Institute of Electrical Engineers of Japan
出版年
2014-10
資料形態
記録メディア
掲載誌名
「センサ・マイクロマシンと応用システム」シンポジウム論文集 電気学会センサ・マイクロマシン部門 [編] 31:2014.10.20-22
掲載ページ
p.1-4
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書誌情報

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記録メディア

資料種別
記事
著者・編者
鈴木 順也
岩見 健太郎
梅田 倫弘
並列タイトル等
Effect of masking material to surface roughness at reactive ion etching process of sapphire substrate
タイトル(掲載誌)
「センサ・マイクロマシンと応用システム」シンポジウム論文集 電気学会センサ・マイクロマシン部門 [編]
巻号年月日等(掲載誌)
31:2014.10.20-22
掲載巻
31
掲載ページ
1-4
掲載年月日(W3CDTF)
2014-10