電気端子接合部のSnウィスカ発生に及ぼす金属組織の影響
デジタルデータあり（Japan Link Center）
すぐに読む
CiNii Research
全国の図書館の所蔵
国立国会図書館以外の全国の図書館の所蔵状況を表示します。
所蔵のある図書館から取寄せることが可能かなど、資料の利用方法は、ご自身が利用されるお近くの図書館へご相談ください
書誌情報
この資料の詳細や典拠（同じ主題の資料を指すキーワード、著者名）等を確認できます。
- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- 榊田 智実佐々木 淳平宮野 泰征高橋 護神谷 修渡部 雄大千田 将博久保内 達郎
- 並列タイトル等
- Effect of Microstructure on Sn Whisker Growth on Electronic Wire Weld
- タイトル（掲載誌）
- スマートプロセス学会誌 = Journal of smart processing
- 巻号年月日等（掲載誌）
- 5(6):2016.11
- 掲載巻
- 5
- 掲載号
- 6
- 掲載ページ
- 380-385