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雑誌電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報
巻号116(442):2017.1.30・31
記事光EFISHG法によ...

光EFISHG法による有機EL素子の非破壊寿命推定 (電子ディスプレイ)

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光EFISHG法による有機EL素子の非破壊寿命推定

(電子ディスプレイ)

国立国会図書館請求記号
Z16-940
国立国会図書館書誌ID
027983684
資料種別
記事
著者
田口 大ほか
出版者
東京 : 電子情報通信学会
出版年
2017-01
資料形態
紙
掲載誌名
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 116(442):2017.1.30・31
掲載ページ
p.59-64
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書誌情報

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紙

資料種別
記事
タイトル
光EFISHG法による有機EL素子の非破壊寿命推定
著者・編者
田口 大
間中 孝彰
岩本 光正
シリーズタイトル
電子ディスプレイ
著者標目
田口 大
間中 孝彰
岩本 光正
並列タイトル等
Nondestructive OLED diagnostics by using optical EFISHG technique
タイトル（掲載誌）
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等（掲載誌）
116(442):2017.1.30・31
掲載巻
116
掲載号
442