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雑誌
電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報
巻号
116(443):2017.1.30・31
記事
光EFISHG法によ...
光EFISHG法による有機EL素子の非破壊寿命推定 (電子デバイス)
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光EFISHG法による有機EL素子の非破壊寿命推定
(電子デバイス)
国立国会図書館請求記号
Z16-940
国立国会図書館書誌ID
027985794
資料種別
記事
著者
田口 大ほか
出版者
東京 : 電子情報通信学会
出版年
2017-01
資料形態
紙
掲載誌名
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 116(443):2017.1.30・31
掲載ページ
p.59-64
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書誌情報
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書誌情報を出力
紙
資料種別
記事
タイトル
光EFISHG法による有機EL素子の非破壊寿命推定
著者・編者
田口 大
間中 孝彰
岩本 光正
シリーズタイトル
電子デバイス
著者標目
田口 大
間中 孝彰
岩本 光正
並列タイトル等
Nondestructive OLED diagnostics by using optical EFISHG technique
タイトル(掲載誌)
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等(掲載誌)
116(443):2017.1.30・31
掲載巻
116
掲載号
443
掲載ページ
59-64
掲載年月日(W3CDTF)
2017-01
ISSN(掲載誌)
0913-5685
ISSN-L(掲載誌)
0913-5685
出版事項(掲載誌)
東京 : 電子情報通信学会
出版地(国名コード)
JP
本文の言語コード
jpn
件名標目
光第2次高調波発生
非破壊測定
有機EL
寿命推定
electric-field-induced optical second-harmonic generation
non-destructive measurement
organic light-emitting diode
Diagnostic method
NDLC
ZN33
対象利用者
一般
レポート番号(雑誌記事)
ED2016-124
所蔵機関
国立国会図書館
請求記号
Z16-940
連携機関・データベース
国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID(NDLBibID)
027985794
http://id.ndl.go.jp/bib/027985794
整理区分コード
632
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