書誌情報
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- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- 岡本 拓実藤本 大介林 優一本間 尚文アーサー ベッカーズジョゼフ バラスチベネディクト ゲーリッヒイングリッド ヴェルバウヘーデ
- シリーズタイトル
- 並列タイトル等
- Immunity Evaluation of Cryptographic Devices using Gaussian Noise against IEMI Fault Injection
- タイトル（掲載誌）
- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
- 巻号年月日等（掲載誌）
- 118(153):2018.7.25・26
- 掲載巻
- 118
- 掲載号
- 153